Kapsamlı hata ayıklama gerçekleştirmek için mühendisler ve tanılama sistemi aracılığıyla özel test iğneler az sayıda sağlayan bir teknoloji. Sinyalleri içine ve I/O hücrelere bir cihazın seri olarak kontrol girişleri ve çıkışları çeşitli koşullarda test için taranır.