Ένα τεστ μνήμης που χρησιμοποιούνται για την ανίχνευση καταστροφικές βλάβες και προβλήματα καλωδίωσης κατά το τσιπ μνήμης και στο λεωφορείο δεδομένα γράφοντας ένα εναλλασσόμενο σχέδιο του 0 και του 1 με το τσιπ μνήμης.